检测报告图片

检测报告类型

半导体晶体场效应管(MOSFET,碳化硅MOSFET)检测类型：电子报告、纸质报告(中文报告、英文报告、中英文报告)均可，英文报告需提前说明。报告盖章资质： CMA；CNAS等。

检测费用价格

因半导体晶体场效应管(MOSFET,碳化硅MOSFET)检测测试项目、样品数量及实验复杂程度不同，需跟工程师确定检测项目及标准后才能报价。详情请咨询客服。

半导体晶体场效应管(MOSFET,碳化硅MOSFET)检测测试哪些项目？检测周期多久呢？检测费用是多少？检测报告如何办理？报告有效期多久呢？百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。

检测项目

二极管正向压降VSD,低温测试,反向恢复时间trr,开关时间(td(on),tt,tf,td(off)),栅极截止电流IGSS,栅电荷(Qg,Qgs,Qgd),正向跨导gfs,漏-源击穿电压V(BR)DSS,漏-源通态电阻RDS(on),漏极截止电流IDSS,瞬态热阻Rth,稳态热阻Rja，Rjc,结电容(Ciss,Coss,Crss）,耐溶性,阈值电压VGS(th)VGS(off),高温测试

检测标准

1、GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分:信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995

2、GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009

3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

4、GB/T4586-1994 半导体分立器件和集成电路 第8部分：场效应功率晶体管 第Ⅳ章 第2条、第4条、第5条、第6条、第7条、第9条、第10条、第11条、第15条

5、GB/T 4586-1994 半导体分立器件和集成电路 第8部分：场效应功率晶体管 GB/T4586-1994

6、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 4011

7、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

8、GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分:信号（包括开关）和调整二极管 第Ⅳ章4.2.3，4.2.4

9、GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 215

10、MIL-STD- 750F 半导体器件的试验方法 标准试验方法 MIL-STD-750F

11、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 2015.1

12、MIL-STD-750F 半导体器件的试验方法 标准试验方法 3472.2

检测费用价格

因测试项目及实验复杂程度不同，具体请联系客服确定后进行报价。

检测时间周期

一般3-10个工作日（特殊样品除外），有的项目可加急1.5天出报告。

检测报告用途

电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等。

检测报告有效期

一般半导体晶体场效应管(MOSFET,碳化硅MOSFET)检测上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。常规来说只要测试没更新，测试不变检测报告一直有效。

检测流程步骤

温馨提示：以上内容仅供参考，更多其他信息请咨询客服。