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检测报告类型

绝缘栅双极晶体管(IGBT)检测类型：电子报告、纸质报告(中文报告、英文报告、中英文报告)均可，英文报告需提前说明。报告盖章资质： CMA；CNAS等。

检测费用价格

因绝缘栅双极晶体管(IGBT)检测测试项目、样品数量及实验复杂程度不同，需跟工程师确定检测项目及标准后才能报价。详情请咨询客服。

绝缘栅双极晶体管(IGBT)检测测试哪些项目？检测周期多久呢？检测费用是多少？检测报告如何办理？报告有效期多久呢？百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。

检测项目

关断期间的各时间间隔和关断能量,反向传输电容,开通期间的各时间间隔和开通能量,最大集电极峰值电流,最大集电极电流,栅极漏电流IGES,栅极电荷,栅极－发射极阈值电压VGEth,输入电容,输出电容,集电极-发射极击穿电压V(BR)CES,集电极截止电流ICES,集电极－发射极电压,集电极－发射极短路时的栅极－发射极电压,集电极－发射极饱和电压VCEsat,栅极-发射极阈值电压,栅极漏电流,稳态湿热偏置寿命,结－壳热阻,间歇工作寿命（负载循环）,集电极-发射极饱和电压,集电极截止电流,高温栅极偏置,高温阻断,发射极-集电极的击穿电压V(BR)ECO,栅极-发射极的漏电流IGES,栅极阈电压VGE(th),正向跨导gm,集电极-发射极的击穿电压V(BR)CEO,集电极-发射极的饱和电压VCEsat,零栅压时的集电极电流ICES,集电极－发射极饱和电压,栅极－发射极阈值电压,最大反偏安全工作区,最大短路安全工作区1,最大短路安全工作区2,开通期间的各时间间隔（td(on)、tr、ton）和开通能量Eon,关断期间的各时间间隔（td(off)、tf、toff、tz）和关断能量Eoff,结－壳热阻和结－壳瞬态热阻抗,集电极-发射极击穿电压,发射极-集电极的击穿电压,栅极-发射极的漏电流,栅极阈电压,集电极-发射极的击穿电压,集电极-发射极的饱和电压,零栅压时的集电极电流,正向跨导

检测标准

1、 GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.3.5 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.3.5

2、 GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.2.6.3 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.2.6.3

3、 GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.2.5 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.2.5

4、 GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.3.4 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.3.4

5、 GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.2.6.2 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.2.6.2

6、 GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.2.2 GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :200 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.2.2 GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007

7、GB/T 4587-1994 半导体器件分立器件 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994

8、 GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.3.9 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.3.9

9、GB/T 4586-1994 半导体器件分立器件 第8部分:场效应晶体管 Ⅳ2

10、IEC 60749-5:2017 半导体器件机械和气候试验方法 第5部分：稳态湿热偏置寿命试验

11、GB/T 29332-2012 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT)

12、 GB/T 29332-201 半导体器件分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012

13、 GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.3.3 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.3.3

14、 GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.2.4 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.2.4

15、 GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.3.2 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.3.2

16、 GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.2.3 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.2.3

17、GB/T 4586-1994 半导体器件分立器件 第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994

18、 GB/T 29332-2012 半导体器件分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012

19、 GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.3.12 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.3.12

20、 GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.3.11 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 6.3.11

检测费用价格

因测试项目及实验复杂程度不同，具体请联系客服确定后进行报价。

检测时间周期

一般3-10个工作日（特殊样品除外），有的项目可加急1.5天出报告。

检测报告用途

电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等。

检测报告有效期

一般绝缘栅双极晶体管(IGBT)检测上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。常规来说只要测试没更新，测试不变检测报告一直有效。

检测流程步骤

温馨提示：以上内容仅供参考，更多其他信息请咨询客服。